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    • AN87500多通道功率分析仪
      «多通道:1~6通道测量单元配置,可灵活配置为多通道单相、三相三×2、三相四×2、四相(DC+三相三)等模式,满足多种负载(空调、逆变器、变频器、电机)测量需求; «高精度:使用高速DSP处理器,16位高速高精度AD转换器,基本精度可达0.1%,快100ms显示数据更新周期;

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    • ET2673D-200型压电陶瓷高压极化设备
      ET2673D-200全数显型压电陶瓷高压极化设备,电压、时间、温度均为数字显示。是对压电陶瓷进行油浴高压极化而设计的。本仪器具有两百路同时极化并且每路都有检测、保护、切断功能及灯光指示,当其中某路不合格,其余各路能按时间设定正常极化完毕。

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    • ET2673D-4型压电陶瓷高压极化仪
      ET2673D-4全数显型压电陶瓷高压极化设备,电压、时间、温度均为数字显示。是对压电陶瓷进行油浴高压极化而设计的。本仪器具有四路同时极化并且每路都有检测、保护、切断功能及灯光指示,当其中某路不合格,其余各路能按时间设定正常极化完毕。

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    • CC9670K高频电介质强度测试仪
      CC9670K高频电介质强度测试仪CC9670K高频电介质强

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    • GY3020晶片频率分选仪(晶片测试仪)
      GY3020晶片频率分选仪是用于测量1~45MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率,频率由频率计显示,测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。

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    • CZ-150C晶体阻抗计(晶体测试仪)
      CZ—5A,CZ—5C,CZ—8A,CZ—8C,CZ—10A型晶体阻抗计是用于测量石英晶体等效电阻Rr及串联谐振频率fS,负载谐振频率fL及负载谐振电阻RL的设备(仅限带C型的仪器)。

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    • CZ-8C石英晶体阻抗计(晶体测试仪)
      特点:1.测量中频1~60MHz范围内石英晶体谐振频率、等效电阻。2.第四代升级产品,频率电调谐,机内带可调负载电容。3.频率测量精度≤5PPM,可选配更高精度频标。4.可选配八位频率和四位PPM同时显示,频率上下限、分档分选功能。5.上下限频率分别设置,超出范围(不合格)时自动声光报警。性能指标:□测频范围:1~60MHz□电阻测量范围:1~500Ω□可调负载电容范围

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    • CB-D系列恒温晶振频标源
      特点: 1.采取恒温晶体振荡器,稳定性高。 2.应用于学校、工厂、技检部门的频率校对,外频标信号源等。 3.输出波形可选方波或正弦波。

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    • CZ-5C晶体阻抗计(晶体测试仪)
      CZ—5A,CZ—5C,CZ—8A,CZ—8C,CZ—10A型晶体阻抗计是用于测量石英晶体等效电阻Rr及串联谐振频率fS,负载谐振频率fL及负载谐振电阻RL的设备(仅限带C型的仪器)。

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    • CZ-10A/10P晶体阻抗计(晶体测试仪)
      CZ—5A,CZ—5C,CZ—8A,CZ—8C,CZ—10A型晶体阻抗计是用于测量石英晶体等效电阻Rr及串联谐振频率fS,负载谐振频率fL及负载谐振电阻RL的设备(仅限带C型的仪器)。

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    • CZ-327晶体阻抗计(晶体测试仪)
      CZ—327型系列晶体阻抗计是用于测量低频石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率FR,负载谐振频率FL和负载谐振电阻RL,且等效电阻和谐振频率直接数字显示。其中CZ-327P型晶体阻抗计还可同时显示PPM误差值。

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    • CZ-327P晶体阻抗计(晶体测试仪)
      CZ—327型系列晶体阻抗计是用于测量低频石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率FR,负载谐振频率FL和负载谐振电阻RL,且等效电阻和谐振频率直接数字显示。其中CZ-327P型晶体阻抗计还可同时显示PPM误差值。

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    • CZ-100晶体阻抗计(晶体测试仪)
      CZ—100/100P型晶体阻抗计是用于测量石英晶体各项参数的设备。该型号是在我厂老产品CZ-8A石英晶体阻抗计的基础上进行优化改进的第四代产品,在保持原产品质量稳定、简单实用的优点的同时,将机械式频率调谐改进为电调谐,使频率调谐更加方便和可靠,并增加了测试静电容Co和阻抗合格时自动发出声光信号功能,且负载电容CL容量设定更加方便,具有负载电容CL和静电容Co数字显示的特点。

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    • GY-3010A晶片频率分选仪
      GY3010/3010A晶片频率分选仪是用于测量1-60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率,频率由频率计直接显示(GY3010型须外接频率计),测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。

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    • CZ-1晶体功率清洗器(晶体电清洗机)
      CZ-1型晶体功率清洗器可起到老化晶体谐振器、稳定其频率的作用,经实验验证,该产品可明显降低晶体等效电阻(尤其是泛音晶体的等效电阻),从而降低晶体激励电平,提高晶体性能。其作用机理可参阅《压电晶体技术》2003年第1期第4-7页《关于晶体元件的DLD》一文。

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    • CZ-150P晶体阻抗计(晶体测试仪)
      性能指标:□测频范围:1~60MHz。 □电阻测量范围:1~500Ω。 □激励功率可调范围:1~1200μW。 □可调负载电容范围:12~50PF。(超出此范围可定做) □八位频率显示。

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    • ZX2735A 磁芯特性/VA特性测试仪
      ZX2735磁芯特性测试仪(伏安特性测试仪)是针对铁氧体磁芯、铁芯分选设备而专门设计配套的智能型测试仪,也可作为一般交流恒流源或交流毫伏表使用,小分辨率到1μV。该仪表模拟测量铁芯或磁芯在工作频率与工作电流时绕一圈所产生的感生电压。

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    • ZX2735 磁芯特性/VA特性测试仪
      ZX2735磁芯特性测试仪(伏安特性测试仪)是针对铁氧体磁芯、铁芯分选设备而专门设计配套的智能型测试仪,也可作为一般交流恒流源或交流毫伏表使用,小分辨率到1μV。该仪表模拟测量铁芯或磁芯在工作频率与工作电流时绕一圈所产生的感生电压。

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